@MASTERSTHESIS{ 2009:1158957409,
 	title = {Controle estatístico de processo aplicado à produção de dispositivos eletrônicos},
 	year = {2009},
 	url = "http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546",
 	abstract = "A manufatura de produtos eletrônicos de comunicação móvel demanda um controle de qualidade apurado que é atingido através de medições e de sintonias de cada unidade produzida. O objetivo deste trabalho é avaliar o uso de controle estatístico de processo (CEP) para monitorar a qualidade dos produtos e o índice Cpk de capacidade do processo. Em outras palavras, este estudo compara a sensibilidade do gráfico de controle para detectar variações na média e no desvio padrão do processo. Nesse sentido, foi usada a medição de um parâmetro crítico do dispositivo produzido, a potência irradiada. Neste estudo, gráficos de controle de Shewhart e de soma cumulativa (CUSUM) foram analisados comparativamente para encontrar o melhor CEP para garantir medições mais exatas e dispositivos sintonizados com menores desvios. Shewhart, neste caso, usa a média e o desvio padrão de amostras observadas num período de tempo definido. Os gráficos de controle CUSUM, baseado em somas cumulativas, são ferramentas estatísticas usadas com sucesso para avaliar processos de diferentes indústrias. O gráfico de Shewhart foi otimizado para monitorar o índice de capacidade Cpk. De acordo com os resultados obtidos nas condições do experimento, o gráfico de controle CUSUM mostrou maior sensibilidade para pequenos desvios no processo. Não foi obsevada a eficácia do gráfico de Shewhart otimizado para monitorar o índice de capacidade Cpk.",
 	publisher = {Universidade Federal do Amazonas},
 	scholl = {Programa de Pós-graduação em Engenharia de Produção},
 	note = {Faculdade de Tecnologia}
}