Statistics
Utilização de testes metalográficos (cross-section, dye pry e raio x) para análise de causa raiz de defeito: estudo de caso em uma empresa de manufatura de placa de computador
- 357 Total Visits
Total Visits per Month
| December 2024 | January 2025 | February 2025 | March 2025 | April 2025 | May 2025 | June 2025 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 33 | 1 | 27 | 18 | 23 | 26 | 14 |
File Downloads
| ???jsp.statistics.heading.download.filename??? | ???jsp.statistics.heading.download.amout??? |
|---|---|
| DISS_NatháliaTerra_PPGEP | 195 |
| SEI_UFAM - 2071080 - Ata de Defesa.pdf | 2 |
| CartaEncaminhamentoTCC-TESE-DISS._Relatorios_assinado.pdf | 2 |