@MASTERSTHESIS{ 2024:347307520,
 	title = {Investigando a influ?ncia da temperatura de sinteriza??o na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de L?ntanio (LaMnO3)},
 	year = {2024},
 	url = "https://tede.ufam.edu.br/handle/tede/10258",
 	abstract = "Este trabalho apresenta a caracteriza??o detalhada de filmes finos de manganita de 
 lant?nio (LaMnO3), preparadas pelo m?todo sol-gel. A investiga??o ? de grande 
 relev?ncia devido ao seu potencial para aplica??es em dispositivos eletr?nicos, ?pticos e 
 magn?ticos. Compreender suas propriedades estruturais, t?rmicas e morfol?gicas 
 possibilita o desenvolvimento de materiais mais eficientes e funcionais, contribuindo para 
 avan?os significativos em tecnologias, como sensores, catalisadores e dispositivos de 
 armazenamento de energia. Neste estudo o substrato foi seco e pr?-sinterizado a 400?C e, 
 em seguida, as amostras foram sinterizadas entre 650?C e 850?C. Atrav?s das an?lises 
 termogravim?trica (TG) e de an?lise t?rmica diferencial (DTA), determinou-se a 
 temperatura de transi??o de fase da manganita de lant?nio, a qual foi observada como 
 superior a 650?C. Com base na an?lise de FTIR foi poss?vel constatar os principais grupos 
 funcionais, tais como, vibra??es Mn ? O ? Mn, grupos carbox?licos e liga??es O ? H. Da 
 an?lise de DRX, padr?es espaciais em fun??o da temperatura de sinteriza??o dos filmes
 foram obtidos e foi verificado que as amostras sinterizadas entre 700?C e 800?C 
 apresentam uma fase ortorr?mbica com simetria Pbnm. A morfologia da superf?cie dos 
 filmes finos foi analisada pelas t?cnicas de Microscopia Eletr?nica de Varredura (MEV)
 e de Microscopia de For?a At?mica (AFM). As imagens mostram a forma??o de 
 superf?cies homog?neas, sem fraturas e com tamanho de gr?o m?dio que varia em torno 
 de 200 e 300 nm. A rugosidade m?dia das superf?cies varia de 1,9 nm a 7 nm. Os 
 resultados obtidos neste estudo destacam a import?ncia das condi??es de processamento, 
 especialmente as temperaturas de sinteriza??o, na forma??o e nas propriedades dos filmes 
 finos de LaMnO3.",
 	publisher = {Universidade Federal do Amazonas},
 	scholl = {Programa de P?s-gradua??o em F?sica},
 	note = {Instituto de Ci?ncias Exatas}
}